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一、假设提出 1.原假设（H0）通常是我们想要推翻的假设，备择假设（H1）是我们希望得到支持的假设。在本题中，问题是判断电子元件的使用寿命是否有明显提高，所以原假设设为平均使用寿命不大于 100 小时（H0:μ≤100），备择假设为平均使用寿命大于 100 小时（H1:μ>100）。 二、检验统计量及分布 1.已知总体为正态分布，且样本量较大（n = 100），根据中心极限定理，样本均值的抽样分布也近似为正态分布。检验统计量为，其中是样本均值，是原假设中的总体均值，是总体标准差，是样本量。在本题中，，，，所以检验统计量服从标准正态分布。 三、拒绝域与判断 1.给定显著性水平，对于右侧检验，拒绝域在分布的右侧。由于，查标准正态分布表可得，所以拒绝域为。 2.计算检验统计量的值并与拒绝域进行比较。如果检验统计量的值大于，则称与的差异是显著的，这时拒绝原假设 H0，接受备择假设 H1。在本题中，样本均值为 102 小时，代入检验统计量公式计算，若结果大于 1.645，则拒绝 H0，认为该类型的电子元件的使用寿命确实有显著提高